材質透檢,缺陷捕捉!全新CI系列SWIR相機帶你“洞見”更多
"工業(yè)相機在可見光領域中已具備較高的成熟度,并且已經(jīng)擴展到NIR、UV等不可見光的領域,但市面上針對SWIR(1-3μm)光譜段響應的工業(yè)相機相對較少。
??禉C器人CI系列新增SWIR明星產(chǎn)品,填補了標準產(chǎn)品在短波波段上的響應空缺,且能在0.4μm-1.7μm內(nèi)連續(xù)響應。相較于市面上傳統(tǒng)的InGaAs相機,具備更薄的InP層,更小的像元尺寸,更少的壞點,及更高的一致性,在半導體、光伏、農(nóng)業(yè)、印刷等行業(yè)的AOI設備中更為適用。"
CI系列SWIR工業(yè)面陣相機
MV-CI013-GS-TF工業(yè)SWIR相機,搭載InGaAs 傳感器,內(nèi)置多種圖像預處理功能,采取主動制冷控制,確保圖像質量優(yōu)異,通過GigE接口實時傳輸非壓縮圖像,具備高幀率。
光譜更寬,“洞見”更多
MV-CI013-GS-TF采用InGaAs 傳感器,支持0.4-1.7μm 寬光譜成像。產(chǎn)品將可見光和SWIR波段的響應融于一臺相機,打破了原先僅僅響應于可見光或者SWIR波段的傳感器局限,有助于削減系統(tǒng)成本,通過減輕圖像處理負荷提升處理速度,大幅度擴展檢測對象的領域和范圍。
TEC制冷,圖像更細膩
相機支持TEC 制冷控制,優(yōu)化結構散熱設計,ISP 功能豐富,支持陰影校正、降噪、對比度調(diào)節(jié)等功能,成像質量優(yōu)異。
TEC開啟/關閉時,噪點測試結果如下:
可靠的產(chǎn)品應用
■硅在 1.1μm以上的波長下是透明的。因此,在最佳波段1.5μm的短波下,相機可拍攝到硅片的底層結構,檢測硅片隱裂等缺陷;或拍攝TFT顯示屏的背面,檢測觸點質量。
發(fā)光成像有助于通過使硅片或太陽能電池發(fā)光,來識別硅片或太陽能電池中的不一致性,如EL、PL等。
■ 材料分選(塑料分類)
SWIR可對多種材料進行分類。針對塑料制品,在特定的波段下,可用于識別PE、PP、PET、PS、PVC等多種材質,尤其適用于不同材質的黑色/同色塑料進行分選的需求,可廣泛應用于在家用、汽車和電子產(chǎn)品中的塑料分類。
■ 含水量檢測
水在特定的波長上有強烈的吸收作用,如在1.45μm波段下,水的吸收能力較強,所以在圖像中顯得比較暗。含水量少的部分,反射率會強烈增加,圖像亮度較高。
農(nóng)產(chǎn)品色選
液面檢測
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